氣相色譜是二十世紀(jì)五十年代出現(xiàn)的一項(xiàng)重大科學(xué)技術(shù)成就。這是一種新的分離、分析技術(shù)，它在工業(yè)、農(nóng)業(yè)、國(guó)防、建設(shè)、科學(xué)研究中都得到了廣泛應(yīng)用。氣相色譜可分為氣固色譜和氣液色譜。色譜法又叫層分析法，它是一種物理分離技術(shù)。具有分離效能高、分析速度快、樣品用量高、靈敏度高等特點(diǎn)。
在日常色譜定量分析中，容易因?yàn)椴煌虺霈F(xiàn)色譜峰形異變或鬼峰，嚴(yán)重影響定量精度和分析工作，小集特整理了以下15種常見(jiàn)類(lèi)型的異變峰型及可能原因：
1
臺(tái)階峰
(1)TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕；
(2)氣體流量突變?nèi)纾鹤⑸鋲|突然漏氣，氣路受阻等；
(3)記錄色譜峰裝置故障如：拉線松。
2
負(fù)峰
(1)TCD用氮做載氣，由于待測(cè)組分在N2中濃度不同，熱傳導(dǎo)值呈現(xiàn)非線性而可能出現(xiàn)負(fù)峰,有時(shí)可以通過(guò)改變載氣流量或進(jìn)樣量克服；
(2)操作ECD時(shí)進(jìn)樣量過(guò)大而出現(xiàn)負(fù)峰，這是由于工作原理由電子捕獲轉(zhuǎn)變?yōu)殡婋x檢測(cè)，此時(shí)靈敏度還會(huì)大大降低；
(3)操作FID，低電離效率的溶劑(如CS2)或雜質(zhì)出現(xiàn)，使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負(fù)峰；
(4)操作FID，在無(wú)極化電壓，樣品量較大可能出現(xiàn)負(fù)峰；
(5)操作NPD、FPD時(shí)氣流比不合適，溶劑或某些組分會(huì)出現(xiàn)負(fù)峰。
3
"N"或“W"峰
(1)TCD操作，用N2作載氣由于熱傳導(dǎo)率非線性引起；
(2)FID操作時(shí)，樣品溶劑電離效率低(如CS2)，或氣流比欠佳；
(3)ECD操作時(shí)，由于檢測(cè)器被污染，溶劑峰或待測(cè)組分含量較高，或脈沖電源有毛病。
4
舌頭峰(前延峰)
(1)汽化溫度偏低；
(2)載氣流量?。?/span>
(3)進(jìn)樣量大，汽化時(shí)間長(zhǎng)；
(4)汽化室被污染，樣品有吸附效應(yīng)；
(5)樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染；
(6)進(jìn)樣技術(shù)差(揮發(fā)性組分的進(jìn)樣速度太慢)；
(7)峰前出現(xiàn)了“鬼"峰。
5
拖尾峰
(1)色譜柱安裝不合格，樣品不能以“塞子"形進(jìn)入色譜柱，柱與檢測(cè)器安裝的死體積太大；
(2)樣品未能注射入柱頭中(柱頭進(jìn)樣方式)；
(3)汽化管沒(méi)有安裝好或破損，樣品只能脫尾進(jìn)入色譜柱；
(4)化室的溫度低或偏高；
(5)載氣流量偏低；
(6)進(jìn)樣量大；
(7)載氣系統(tǒng)(如注射墊處)有漏氣；
(8)進(jìn)樣器(汽化室)，被樣品中高沸點(diǎn)雜質(zhì)或注射墊殘?jiān)廴荆?/span>
(9)色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點(diǎn)污染物作用；
(10)補(bǔ)充氣未開(kāi)或偏低；
(11)色譜柱溫度偏低或失效；
(12)甲烷化Ni催化劑失效；
(13)進(jìn)樣技術(shù)差(如速度不合適)；
(14)正好有干擾峰(鬼峰)出現(xiàn)(如誤用被污染的注射針)；
(15)無(wú)極化電壓(FID)，此時(shí)伴隨靈敏度偏低；
(16)樣品前處理有毛病。
6
出峰后基線下移
(1)樣品量大，特別是溶劑改變了工作狀態(tài)；
(2)FID被污染狀況發(fā)生改變，或氣流比發(fā)生變化；
(3)系統(tǒng)出現(xiàn)漏氣，或出現(xiàn)堵塞；
(4)色譜柱被污染；
(5)樣品處理不當(dāng)，如：樣品中有些物質(zhì)和固定相發(fā)生作用。
7
程序升溫時(shí)基流增加，噪聲增加
(1)色譜柱需重新老化或失效；
(2)新?lián)Q載氣純度欠佳；
(3)過(guò)濾器失效；
(4)樣品前處理不當(dāng)，如：雜質(zhì)干擾物太多；
(5)靈敏度太高；
(6)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)設(shè)置不合理。
8
圓頂寬峰
(1)樣品量大起出了色譜柱容量；
(2)汽化溫度低；
(3)色譜柱沒(méi)按要求安裝；
(4)檢測(cè)器工作狀態(tài)不對(duì)，如載氣太小、沒(méi)開(kāi)補(bǔ)充氣；
(5)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)(半峰寬)設(shè)置偏大。
9
平頂 (未到滿(mǎn)量程)
(1)樣品量大，放大器量程高，衰減大，信號(hào)輸出飽和；
(2)檢測(cè)器已工作在飽和區(qū)；
(3)數(shù)據(jù)處理輸入信號(hào)極性接錯(cuò)，或零點(diǎn)失調(diào)。
10
基線出現(xiàn)波浪狀峰
(1)高靈敏度操作儀器未穩(wěn)定之前；
(2)操作TCD、ECD時(shí)，柱箱或檢測(cè)器箱溫度周期變化；
(3)環(huán)境溫度對(duì)儀器控溫影響；
(4)電壓不穩(wěn)，對(duì)柱溫控制精度影響；
(5)過(guò)溫保護(hù)設(shè)置低于控制溫度；
(6)壓力(流量)調(diào)節(jié)閥失調(diào)，周期變化。
11
原來(lái)能分開(kāi)的峰分不開(kāi)
(1)色譜柱安裝不合要求；
(2)色譜柱被污染，需重新活化；
(3)色譜柱壽命已到，需更換；
(3)新更換的氣源，純度不佳；
(4)濾器失效，重新老化或更換；
(5)色譜柱溫度和載氣流量需要微調(diào)優(yōu)化(色譜分析一般允許)；
(6)檢測(cè)器工作狀態(tài)變化(如ECD漏氣、FID氣流比欠佳)；
(7)汽化室被污染，注射墊漏氣；
(8)樣品處理不當(dāng)，雜質(zhì)干擾物太多；
(9)進(jìn)樣量超出了色譜柱容量；
(10)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù)，半峰寬或斜率設(shè)置不合理；
(11)放大器量程或衰減設(shè)置失誤。
12
直角峰
(1)儀器輸出負(fù)信號(hào)超出了數(shù)據(jù)處理的范圍；
(2)數(shù)據(jù)處理裝置零點(diǎn)未校正，或量程設(shè)置太大無(wú)法判斷基線位置；
(3)數(shù)據(jù)處理裝置輸入信號(hào)極性接反，零點(diǎn)設(shè)置不對(duì)。
13
帶毛刺峰
(1)儀器工作不穩(wěn)定，噪聲大于要求；
(2)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)，半峰寬和斜率設(shè)置太??；
(3)極化電壓(FID)不穩(wěn)。
14
能判別的峰不見(jiàn)了
(1)色譜柱被污染或失效；
(2)氣路系統(tǒng)被污染(如氣源純度低，過(guò)濾器失效)；
(3)注射墊漏氣；
(4)注射針密封性差；
(5)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù)，如：半峰寬和斜率設(shè)置偏大；
(6)進(jìn)樣方法不對(duì)。
15
“鬼峰"(怪峰，多余峰，記憶峰)
(1)上一次進(jìn)樣的高沸點(diǎn)雜質(zhì)峰自然流出；
(2)載氣不純過(guò)濾器失效使低沸點(diǎn)的污染物冷凝在色譜柱頭，程序升溫時(shí)正常流出；
(3)注射墊未經(jīng)老化或無(wú)隔墊清洗而出的污染峰；
(4)汽化溫度太高或嚴(yán)重污染至使樣品某些組分分解；
(5)樣品某些組分與被污染固定相產(chǎn)生了作用；
(6)色譜柱溫度太高固定相分解；
(7)使用了被污染的注射針( 本身不合格，手摸或進(jìn)過(guò)易污染的樣品)；
(8)樣品予處理不完善或用錯(cuò)溶劑；
(9)樣品中有空氣；
(10)TCD、ECD等密封性差(漏氣)；
(11)電源不穩(wěn)，對(duì)控溫或放大器有不良影響；
(12)色譜柱堵塞物使用不當(dāng)，如玻璃棉未按要求進(jìn)行處理。
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